Language: Arabic

University location: Salahaddin

Abstract: في هذا البحث تم اجراء عملية الطلاء الحراري باتباع تقنية الرش الحراري باللهب من خلال استعمال خليط غازي مكون من الاوكسجين والاستيلين لغرض الحصول على طبقة سطحية من الطلاء السيرمتي على قاعدة من الفولاذ المقاوم للصدا نوع (316) ، اذ تم اخذ مسحوق المادة الرابطة بنسبة ( Nizo+Also ) وكانت نسب المادة الاساس (82،77 87 9792) من الالمنيوم Al اما نسب مادة التدعيم % 0 5 10 2015) من الزركونيا المستقرة باليوتيريا (YSZ) بينما نسبة المادة الثابتة 3% من C بعد ذلك تم خلط المزيج لمادة الاساس مع المادة الرابطة بصورة جيدة من خلال استخدام خلاط كهربائي ذي كرات لمدة ( 1hr)، وذلك لغرض الحصول على خليط متجانس، ثم اجريت معاملة حرارية اولية لمساحيق المواد المركبة السيرمتية قبل عملية الطلاء عند درجة حرارة (150°C) لمدة ( 1hr) للتخلص من الرطوبة ، وبعد عملية الطلاء تمت اجراء المعاملة الحرارية عند (600) ، ولوقت (1.5) لغرض متابعة تاثير المعاملة الحرارية ومادة التدعيم، وزمن المعاملة على خصائص طبقات الطلاء ، حيث تم في هذا البحث دراسة فحوصات الصلادة والمسامية و الالتصاقية والمقاومة النوعية وفحص SEM و XRD وتبين ان اضافة مادة الزركونيا المستقرة باليوتيريا تؤدي الى زيادة قيم الصلادة حيث تراوحت نسبة صلادة فيكرز قبل عملية التلبيد بين 159.60-124.5) اذ كانت اعلى قيمة الصلادة فيكرز قبل التلبيد (159.6) عند النسبة 15% وبعد هذه النسبة بدات صلادة فيكرز بالانحفاض الى (155.3.6) عند النسبة 20% وبعد عملية التلبيد الحراري كانت قيم صلادة فيكرز بين 181.6-135.3) اذ كانت اعلى وافضل قيمة (181.6H) عند نسبة 15% وبعد النسبة هذه بدات صلادة فيكرز بالانحفاض الى (173.4) عند 20S. اما المسامية حيث كان افضل واقل قيمة للمسامية قبل التلبيد الحراري (%8.33) عند النسبة 15% وبعدها ايضا بدات بزيادة الى (10.3476) عند النسبة 20% ، وبعد عملية التلبيد الحراري حيث كانت افضل واقل نسبة (7.2376) عند النسبة 152 % ولكن عند زيادة محتوى الزركونيا المستقرة بالبتيريا YSZ ايضا بدات نسبة المسامية تزداد عند النسبة 20% زادت نسبة المسامية الى (9.235) بينما الالتصاقية افضل قيمة لها وصلت قبل التلبيد الى (33.4MP4) وبعد التلبيد وصلت الى (37.62) عند مادة تقوية 15% اما المقاومة النوعية فقد كانت اعلى قيمة مقاومة نوعية قبل التلبيد 6.863( 6-10 × 6.272) اما بعد التلبيد فقد كانت اعلى مقاومة نوعية П. ст( m.102) وان افصل فحوصات لاختبار SEM كانت عند النسبة 15% حيث ظهر الطلاء اكثر تماسكا وتجانسا واقل مسامية بينما نتائج (XRD) فقد اكدت...

Summary:

تصميم ومحاكاة هوائيات الرقعة الدقيقة لتطبيقات الشبكة المحلية اللاسلكية WLAN == Design and Simulation of Microstrip patch Antenna for Wireless local area Network (WLAN) Application

Author name: هيام مجيد احمد عبد الله

Supervisor name: عبد الله حمود محمد الجبوري

General topic: Physics

Specific topic: Solid State and Materials Physics

Degree: Master

University: University Of Kirkuk - College Of Education For Pure Sciences - Department of Physics

Language: Arabic

University location: Kirkuk

First pages:

دراسة الخصائص الكهروضوئية للنبائط المصنعة من شرائح الكاليوم ارسنايد GaAs المسامي النانوي == Study of photo - electrical properties of devices from porous nano GaAs wafers

Author name: اسلام ناصر يوسف عبد الله

Supervisor name: حسين علي محمد | حسين عسكر كاظم

General topic: Physics

Specific topic: Solid State and Materials Physics

Degree: Master

University: University Of Kirkuk - College Of Education For Pure Sciences - Department of Physics

Language: Arabic

University location: Kirkuk

First pages:

نمذجة تاثير الحجم الحبيبي النانوي على الخواص الكهربائية والبصرية لبعض انواع الطلاءات ضمن المنطقة الطيفية (700 - 2500 nm) == Modiling the Effect of Nano - Particle Size on the Electrical and Optical Properties of Some Coatings in Spectrum (700 - 2500 nm)

Author name: هبة عدنان عبد محيسن الكربولي

Supervisor name: سعيد نايف تركي الراشد

General topic: Physics

Specific topic: Solid State and Materials Physics

Degree: Master

University: University of Anbar - College Of Education For Pure Sciences

Language: Arabic

University location: Anbar

First pages:

Author name: علي كاظم وداي

Supervisor name: زياد عدنان صالح

General topic: Physics

Specific topic: Solid State and Materials Physics

Degree: Master

University: Mustansiriyah University - College Of Science

Language: English

University location: Baghdad

First pages:

Abstract: تم في هذا البحث, اخذ اطياف الفلورة للانثراسين المذاب في دايا ميثيل سلفوكسايد بالتركيزين M] [10 - 3,[10 - 4 M] حيث اظهر اربع حزم اهتزازية واضحة وقد تم تهييجه بطول موجي هو 365nm)) وكذلك تم اخذ طيف ثنائي ميثيل نفثالين النقي المذاب في دايا ميثيل سلفوكسايد وقد اظهر ثلاث حزم اهتزازية وقد تم تهييجه بطول موجي هو (270nm). وقد تمت هذه القياسات بدرجة حرارة الغرفة.اظهرت قياس اطياف الامتصاص والفلورة لمحلول الانثراسين المشوب بثنائي ميثيل نفثالين بنسب مختلفة, بتراكيز مولارية مختلفة تبدء من [10 - 3M] الى [10 - 4M] وبطول مهيج (270nm). واظهرت قياسات اطياف هذه المحاليل تبادلا للشحنة الذي يقود الى انتقال للطاقة من جزيئة المضاف ثنائي ميثيل نفثالين الى جزيئة المضيف الانثراسين باطياف الفلورة عند التراكيز اعلاه. تقود هذه النتائج الى تناقص نسبة انتقال الطاقة المحددة من خلال طريقة ميكانيكية تبادل الالكترون. هذا الانخفاض له عدة اسباب منها وجود الفخاخ (traps) والى الامتصاص الذاتي القوي لبلورة الانثراسين .ان ظهور حافة حادة في طيف الفلورة لجزيئة المضاف (2mn) يشير الى وجود امتصاص ذاتي قوي لطيف هذه الجزيئة مما يؤثر على معدل انتقال الطاقة كما اظهرت النتائج تزايد عامل الكبت مع تزايد التركيز .و يتبين من دراستنا للخصائص الكهربائية والتوصيلة الكهربائية هذه لوجود طاقاتي تنشيط لجزيئة الانثراسين المشوبة بنسب مختلفة من جزيئة ثنائي ميثيل نفثالين ولكل طاقة تنشيط ميكانيكية توصيل مختلفة والمحضرة على الواح كوارتز والزجاج على حد سواء وبتركيز مولاري [5*10 - 2 M], التي يمكن تفسيرها بالاعتماد على نظرية الحزم لشبه الموصل والتي تقترح انتقال حاملات الشحنة من مستوى فيرمي المانح الى حزمة التوصيل في شبه الموصل السالب (n - type) عند درجات الحرارة العالية بواسطة التهيج الحراري . معلمات تركيب الشبيكة للاغشية الرقيقة للانثراسين المشوب بثنائي ميثيل نفثالين التي حللت بواسطة (a LabX XRD 6000 SHIMADZU XR - Diffractometer with Cu Kα radiation) , يظهر تاثير التشويب على الافلام الرقيقة للانثراسين بشكل واضحا. وتم الحصول على نمط الحيود بزاوية (2θ) وتبدء من (20°) الى (60°) وبزاوية مجسمة مقدارها (5°) . وكلاهما ثنائي ميثيل نفثالين المضاف الى الانثراسين كشائبة يظهر طيف حيود الاشعة السينية عمليا قمة حاده وقمتان صغيرتان, وهذا يعني لنا ان الاغشية الرقيقة ذات طبيعة تركيبية متعددة التبلور. | In this research, The fluorescence spectrum of Anthracene dissolved in dimethylslfoxayd was studied then showed four obvious vibrated bands ) λex=365nm). Moreover, the spectrum of pure (2 - Methylnaphthalene) dissolved in dimethylslfoxayd was dealt with and it showed three vibrated bands and it has taken at a wavelength (λex=270nm). The measurements was at the room temperature. The absorption and fluorescence spectra of solutions for anthracene doped with 2 - Methylnaphthalene with different ratios, had been measured with different molarity concentrations starting from the [10 - 3M] to [10 - 4M] and at excited wavelength) λex= 270 nm). The measurements of these solutions spectra showed the electron exchange, which led to the energy transfer from the guest (2 - Methylnaphthalene) to the host (Anthracene) with getting fluorescence at the above concentrations. The results led to a decrease in the rate of the energy transfer calculated in the way of energy transfer through mechanical electron exchange. This decline has several causes including the existence of (traps) and to the strong self - absorption of the anthracene crystal.The appearance of a sharp edge in the fluorescence spectrum of the guest (2 - methyl naphthalene) molecule indicates a strong self - absorption spectrum of this molecule which affects on the rate of energy transfer. Also, the results showed the increasing of the quenching factor with the increasing of the concentration.This study shows the presence of energies activation Anthracene doping different proportions of 2 - Methylnaphthalene which were prepared on a substrate of glass and quartz are both which have been used at molarity concentration [5*10 - 2M]. Each activation energy has different mechanical connecting which could be interpreted by relying on the bands theory of semiconductor which proposes a transition charge which carriers from the fermi donor to the conduction band in the semiconductor negative (n - type) at high temperatures by thermal excitation.The structure and lattice parameters of anthracene dopant 2 - Methylnaphthalene thin films were analyzed by a LabX XRD 6000 SHIMADZU XR - Diffractometer with Cu Kα radiation. The effect of the Anthracene dopant on the structure of the film is clear. Diffraction pattern was obtained with 2θ starting from 20° to 60° at 5° solid angle. In both the as - deposited and Anthracene - doped 2 - Methylnaphthalene thin films, the X - ray diffraction spectra possess one sharp and two small peaks. It means that the film is polycrystalline in nature structure