البحث — المستودع الرقمي العراقي

نتائج البحث: 2 من أصل 2

تحضير ودراسة بعض الخصائص الفيزيائية لاغشية (Bi2O3 : Al) الرقيقة بطريقة التبخير الحراري في الفراغ Preparation and study of some Physical properties for( Bi2O3 : Al) Evaporated Thin Films under vacuum

اسم المؤلف: نصر عيسى نجم

اسم المشرف: بشرى كاظم حسون الميالي

الموضوع العام: علوم الفيزياء

السنة: 2017

الموضوع الدقيق: الاغشية الرقيقة

الدرجة: ماجستير

الجامعة: جامعة بغداد - كلية التربية ابن الهيثم للعلوم الصرفة - قسم الفيزياء

اللغة: العربية

مكان الجامعة: بغداد

الصفحات الاولى:

المستخلص: حضرت اغشـيــة ( Bi2O3 ) على قواعد زجاجية بسمــك مختلـف( 450 , 350 , 250 ) nm وبـدقـة تصـل الـى ( ∓ 20 ) nm والمشـوب بمادة الالمنيـوم ( Al ) وبنسـب تشـويب مختلفة ( 3 , 2 , 1 ) % عنـد السمك ( 20 ∓ 450 ) nm والمحضرة بطريقـة التبخـر الحـراري في الفراغ وقد كان معدل ترسيب ( 1.20 nm / sec ) ,اضافة الى ذلك تم اكسدة اغشية البزموث ( Bi ) بدرجة حرارة ( 523 ) K وبزمن لا يزيد عن ساعة واحدة بوجود الهواء , وتـم دراسـة تاثيـر التلديـن علـى الخـواص التركيبيـة والبصـرية للاغشيـة النقيـة والمشـوبـة بـدرجات حــرارة ( 773 , 673 , 573 , R.T ) K ولمدة ساعة واحدة . استخـدمـت تقنية حيـود الاشعة لدراسـة الخصائص التركيبية للاغشية المحضرة واظهرت نتائج قياس حيود الاشعة السينية ( X - ray ) ان جميـع الاغشيـة المحضـرة النقيـة والمشوبـة تكون ذات تركيب متعـدد التبلـور ومـن النـوع الرباعـي والاتجاه السائد (201) لكل الاغشية المحضرة وزيادة معدل الحجم الحبيبي بزيادة سمك الغشاء , وهذا ما اشارت اليه قياسات مجهر القوة الذرية (AFM) كذلك يزداد معـدل الحجـم الحبيبي بزيادة نسب التشويب ما عدا النسبة ( 3 ) % . اظهرت الخصائص البصـرية ان النفاذية تتغير مع تغيـر كـل من سمك الغشاء ودرجة حرارة التلدين ونسب التشويب بالالمنيوم , وكذلـك تـم ايجاد فجـوة الطاقـة البصـرية للاغشيـة كافة فتبيـن انها مـن النـوع المباشـر المسموح لجميع الاغشية المحضرة وتزداد مع زيادة سمـك الغشاء, بينما تقـل مـع زيادة كـل من درجة حرارة التلدين ونسب التشويب عدا النسبة ( 3 % ) . اضافـة الى ذلـك تم حساب قيـم الثـوابـت البصريـة مثـل (معامل الامتصاص ومعامل الانكسار ومعامـل الخمـود وثابـت العـزل المعقد (الحقيقي والخيالي ) والتوصيلية الضـوئية ) كدالة الاطوال الموجية ( 1100 - 300 ) nm للاغشـية المحضرة . | This research includes studying the structural and optical properties of pure Bismuth Oxide ( Bi2O3 ) thin film at different thicknesses ( 250 , 350 and 450 ± 20 ) nm and doped by Aluminum ( Al ) of ( 450 ± 20 ) nm thickness with different doping ratios ( 1 , 2 , 3 ) % which is prepared by thermal evaporation method from depositing Bismuth film on glass substrates at R.T ( 300 ) K with deposition rate ( 1.20 nm / sec ) then oxidation Bismuth films at ( 523 ) K for one hour in air , Also it includes studing the effect of annealing temperature at ( R.T , 573 , 673 and 773 ) K for one hour on structural and optical properties for pure and doped films . The results of x - ray diffraction have been showed that pure and doped prepared films have polycrystalline structure with tetragonal phase with preferred orientation ( 201 ) for all prepared films the grain size increases with the increase of film thickness and this is in agreement with ( AFM ) measurements also it increases after doping except at ratio ( 3 % ) . This research also includes studing the optical properties of prepared pure and doped films . The transmission and absorption values changed with the changing of film thickness , annealing temperature and doping ratio with ( Al ) , the optical energy gap for allowed direct transition was evaluated and it increases with the increase of film thickness while it decreases with annealing temperature and doping percentage by ( Al ) except ratio ( 3 % ) . The optical properties results include calculating the optical constant (absorption coefficient , refractive index ,extinction coefficient, dielectric Constant with two parts real and imaginary and optical conductivity ) in the range of wave length ( 300 - 1100 ) nm for pure and doped films before and after annealing

تصنيع ودراسة خصائص اغشية اوكسيد الباريوم الرقيقة Fabrication and Study of Characterization of Barium Oxide Thin Films

اسم المؤلف: حسن هلال حسن ونس الجناحي

اسم المشرف: عبد العزيز عبيد موسى العكيلي

الموضوع العام: علوم الفيزياء

السنة: 2017

الموضوع الدقيق: الاغشية الرقيقة

الدرجة: ماجستير

الجامعة: جامعة بابل - كلية العلوم - قسم الفيزياء

اللغة: الانكليزية

مكان الجامعة: بابل

الصفحات الاولى:

المستخلص: في هذه الدراسة تم ترسيب اغشية رقيقة من اوكسيد الباريوم على قواعد مختلفة تضمنت (الزجاج والسيليكون نوع (p)) والتي تم تحضيرها بتقنية الرش الكيميائي الحراري باختلاف عدد الرشات (30,20,10,5) حيث كان السمك (75,103,109, و(112 نانومتر للزجاج وبنفس عدد الرشات للزجاج كان السمك (91,74,50, و103) نانومتر للسيليكون وبدرجات حرارية مختلفة (450,400,350,300) C حيث كان السمك (71,68,65, و76) نانومتر للسيليكون وذلك لدراسة خصائص الاغشية الرقيقة وتطبيقاتها الكهرو بصريه مثل (الخلايا الشمسية والكواشف). ان الاغشية متعددة التبلور وكذلك احادية التبلور لاوكسيد الباريوم كانت تشير الى الخصائص التركيبية للاغشية الرقيقة المتمثلة بفحص حيود الاشعة السينية (XRD) , فقد كانت حساسيتها داله لسمك الغشاء ونوع القاعدة. فيما بينت قياسات مجهر القوه الذرية (AFM) ان الحجم الحبيبي يتراوح من (125.18 - 92.2) نانومتر على اعتبار ان الحجم الحبيبي يزداد مع السمك. وان فجوه الطاقة تقل بزياده السمك حيث استعمل مطياف للمدى (المرئي - فوق البنفسجي) ,كذلك تم ملاحظة ان فجوة الطاقة للاغشية الرقيقة تزداد بزياده التبلور للقاعدة. فضلا عن ان فجوة الطاقة تتراوح بين (2.6 - 2.4) الكترون - فولت لكل العينات.خصائص تيار - فولتية (في الظلام) للكواشف اظهرت خصائص جيدة للكاشف عند زيادة السمك ودرجة الحرارة. واكدت نتائج عامل المثالية هذا التحسن. خصائص سعة - فولتية اظهرت نقصان فولتية بناء الجهد البناء الداخلي بعد زيادة السمك ودرجة الحرارة. | In this study, Barium Oxide (BaO) thin films which were prepared by (CSP) on different substrates including glass substrate and p - Si wafer using chemical spray pyrolysis (CSP) technique at different thickness [different number of sprays (5, 10, 20, and 30)] at (75,103,109,and112) nm at glass substrate and (50,74,91,and103) nm respectively at silicon substrate and different temperature (300 , 350, 400 and 450) C at (65,68,71, and76) nm. (were employed to assess thin film properties and applications as optoelectronic devise (solar cells and photodetectors). The structural properties were characterized by X - ray diffraction (XRD) analysis which is indicated the formation of polycrystalline and single crystalline BaO phase. The structural properties of the thin films were found to be a sensitive function of film thickness and substrate type. Atomic force microscope (AFM) measurements show that the grain size is ranging from (92.2 - 125.1) nm. It is found that the crystallites i.e (grains) on different substrate surface increase with increasing of the thickness. The optical energy band gap (Eg) of BaO was found to be decreased with the increasing of thickness utilizing the optical data using UV - Vis spectrophotometer. The value of energy gap which is determined from UV - Vis spectrophotometer spectra ranged (2.4 - 2.6) eV for all samples.The I - V properties of the detectors in dark showed that the increased in thickness and temperature improved the junction properties, the ideality factor results asserted this improvement. The C - V characteristic shows decreasing of built in potential after the increased in thickness and temperature