مشاركة

تقنية الاختبار الذاتي المدمجة لمصفوفة من التشكيل النانوي لنظام على رقاقة == A Built-In Self-Test Technique for Nano System on Chip Array Configuration

اسم المؤلف: لؤي مهدي كاظم حسن
الجامعة: جامعة بابل - كلية الهندسة - قسم الهندسة الكهربائية
اسم المشرف: قيس كريم عمران
الموضوع العام: هندسة الكهرباء والالكترون والاتصالات
الموضوع الدقيق: هندسة الالكترونيك
الدرجة: ماجستير
اللغة: الانكليزية
السنة: 2020
مكان الجامعة: بابل
الصفحات الاولى: T90382 - p.pdf