الرئيسية
الإيداع
الاستشهاد
أسئلة متكررة
حول المستودع
اتصل بنا
EN
تسجيل الدخول
مشاركة
مشاركة
نسخ
تقنية الاختبار الذاتي المدمجة لمصفوفة من التشكيل النانوي لنظام على رقاقة == A Built-In Self-Test Technique for Nano System on Chip Array Configuration
اسم المؤلف:
لؤي مهدي كاظم حسن
اسم المشرف:
قيس كريم عمران
الموضوع العام:
هندسة الكهرباء والالكترون والاتصالات
السنة:
2020
الموضوع الدقيق:
هندسة الالكترونيك
الدرجة:
ماجستير
الجامعة:
جامعة بابل - كلية الهندسة - قسم الهندسة الكهربائية
اللغة:
الانكليزية
مكان الجامعة:
بابل
الصفحات الاولى:
T90382 - p.pdf