الرئيسية
الإيداع
الاستشهاد
أسئلة متكررة
حول المستودع
اتصل بنا
EN
تسجيل الدخول
مشاركة
مشاركة
نسخ
Functional Test Generation For Lsi / Vlsi Circuit And Digital Boards
اسم المؤلف:
صفا ا. باسل
الموضوع العام:
هندسة الحاسبات
السنة:
1990
الموضوع الدقيق:
هندسة الحاسبات
الدرجة:
دكتوراه
الجامعة:
الجامعة التكنولوجية
مكان الجامعة:
بغداد