مشاركة

Functional Test Generation For Lsi / Vlsi Circuit And Digital Boards

اسم المؤلف: صفا ا. باسل
الموضوع العام: هندسة الحاسبات
السنة: 1990
الموضوع الدقيق: هندسة الحاسبات
الدرجة: دكتوراه
الجامعة: الجامعة التكنولوجية
مكان الجامعة: بغداد