مشاركة

Functional Test Generation For Lsi / Vlsi Circuit And Digital Boards

اسم المؤلف: صفا ا. باسل
الجامعة: الجامعة التكنولوجية - قسم هندسة الحاسوب
الموضوع العام: هندسة الحاسبات
الموضوع الدقيق: هندسة الحاسبات
الدرجة: دكتوراه
السنة: 1990
مكان الجامعة: بغداد