العلم العراقي

مشاركة

تعيين سمك طبقة الاكسدة في عملية التاكسد الحراري للسيليكون == Determination of Oxidation Layer Thickness in The Thermal Oxidation Process of Silicon

اسم المؤلف: صاحب عبد الخضر حسن المرشدي
اسم المشرف: شاكر ابراهيم عيسى
الموضوع العام: علوم الفيزياء
السنة: 2010
الموضوع الدقيق: الفيزياء
الدرجة: ماجستير
الجامعة: جامعة البصرة - كلية التربية
اللغة: العربية
مكان الجامعة: البصرة
الصفحات الاولى: T77898 - p.pdf