المستودع الرقمي العراقي

Iraqi Digital Repository

تعيين سمك طبقة الاكسدة في عملية التاكسد الحراري للسيليكون == Determination of Oxidation Layer Thickness in The Thermal Oxidation Process of Silicon

اسم المؤلف: صاحب عبد الخضر حسن المرشدي

اسم المشرف: شاكر ابراهيم عيسى

الموضوع العام: علوم الفيزياء

السنة: 2010

الموضوع الدقيق: الفيزياء

الدرجة: ماجستير

الجامعة: جامعة البصرة - كلية التربية

اللغة: العربية

مكان الجامعة: البصرة

الصفحات الاولى: 📎 T77898 - p.pdf